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二次離子質譜工作站 品牌:英國Hiden Analytical
型號:SIMS
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飛行時間二次離子質譜 品牌:英國Kore
型號:TOF-SIMS
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TESCAN 電鏡質譜 FIB-SEM-TOF-SIMS 聯用系統 品牌:捷克泰思肯
型號:FIB-SEM-TOF-SIMS
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TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨鎵離子FIB-SEM 品牌:捷克泰思肯
型號:TESCAN SOLARIS
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CIS系列封閉離子源式質譜儀 品牌:美國SRS
型號:CIS系列
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二次離子質譜工作站
- 品牌:英國Hiden Analytical
- 型號: SIMS
- 產地:英國
整合的離子源,便于RGA和SNMS; 各類型樣品的快速轉向; 陰、陽離子、中性粒子、自由基的質量、能量分析儀。
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二次離子質譜探針
- 品牌:英國Hiden Analytical
- 型號: EQS
- 產地:英國
儀器簡介:EQS是差式泵式二次離子質譜(SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer‘Bolt-On’probe),可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用zui*技術 的SIMS探針,便于連結到現有的UHV表面科學研究反應室。技術參數:應用: 靜態 /動態SIMS 一般目的的表面分析 整體的前端離子源,便于RGA和 SNMS 兼容的離子槍/ FAB 槍 成分/污染物分析 深度分析 泄漏檢測
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小型二次離子質譜儀
- 品牌:英國Hiden Analytical
- 型號:
- 產地:英國
儀器簡介:1.適合做多層薄膜的深度分析。 2.很好的、耐用的、普通目的的二次離子質譜儀。 3.方便使用。 4.樣品可以手動轉換,由于分析速度快所以每天可以分析一定數量的樣品。 5.我們的系統可配置快速原子槍,使我們可以輕松處理絕緣的樣品。 6.我們還可以做元素成像(就象化學地圖)和混合模式掃描,自動測量正、負和中性粒子。 7.我們的系統是典型的超高真空工作臺,很容易滿足很多其它分析的使用。 結構緊湊,但不損失性能。真正的高性價比。技術參數:
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二次離子質譜工作站
- 品牌:英國Hiden Analytical
- 型號: SIMS
- 產地:英國
整合的離子源,便于RGA和SNMS; 各類型樣品的快速轉向; 陰、陽離子、中性粒子、自由基的質量、能量分析儀。
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飛行時間二次離子質譜儀PHI nanoTOF3
- 品牌:日本Ulvac-Phi
- 型號: TOF-SIMS
- 產地:日本
PHI第7代TOF-SIMS ?全新外觀,時尚設計,設備占地面積減少,更低功耗 ?全新設計的全自動樣品臺,可實現可靠、高通量-的樣品處理和真空停放 ?配置新型鉍源LMIG團簇離子槍,具有更高的空間分辨率 獲得專利的平行成像MS/MS質譜儀 ?無論樣品表面平整還是粗糙,PHI的第7代三重聚焦質量分析器均能勝任 ?并行成像MS/MS將TOF-SIMS譜峰識別從“我認為”變為“我知道!” ?可對豐度低于20 ppm的質譜峰進行無損和高靈敏度串聯質譜分析 獲得專利的一鍵雙束中和技術 ?全新的脈沖低能電子和低能Ar+離子雙束中和技術,可在正、負離子模式下實現可靠且真正的一鍵中和 可靠的自動化和遠程操作 ?高度可配置的序列分析系統,可用于自動無人值守分析,以獲得最大的分析效率 ?可完全遠程操作和高級遠程診斷
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TESCAN 電鏡質譜 FIB-SEM-TOF-SIMS 聯用系統
- 品牌:捷克泰思肯
- 型號: FIB-SEM-TOF-SIMS
- 產地:其它
TESCAN 電鏡質譜 FIB-SEM-TOF-SIMS 聯用系統電子顯微分析是材料和生命科學微觀分析中zui重要的一環,而元素分析是其中zui重要的表征手段之一,但標準的分析手段如能譜儀和波譜儀存在很多不足,例如因靈敏度不足、空間分辨率較差,無法進行輕元素、微量元素的分析,無法分辨同位素等等,普通的分析手段已不能滿足現階段應用的需求。TESCAN 提供的解決方案是將飛行時間二次離子質譜與 FIB-SEM 系統集成。這種組合能夠為用戶提供固體材料的 3D 化學表征和分子信
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飛行時間二次離子質譜
- 品牌:英國Kore
- 型號: TOF-SIMS
- 產地:英國
飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術??梢詮V泛應用于物理,化學,微電子,生物,制藥,空間分析等工業和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三維樣品的元素,分子等結構信息。
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CAMECA全自動在線二次離子質譜儀AKONIS
- 品牌:法國Cameca
- 型號: AKONIS
- 產地:法國
用于半導體晶圓廠中成分測量的全自動 SIMSAKONIS SIMS 工具通過直接在半導體生產線中提供對注入分布、成分分析和界面數據的高產量、高精度檢測,填補了半導體制造工藝中的重要空白。AKONIS 有非常高的自動化水平,確保了各種工具在晶圓廠工藝控制和工具之間匹配方面的可重復性。除傳統的通過表征實驗室為半導體行業提供支持的IMS Wf/SC Ultra和 SIMS 4550(四極桿 SIMS)系列外,AKONIS作為其 補充,可實現儀器設置和采集例程的完全自動化,從而可在分析靈敏度不受影響
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TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨鎵離子FIB-SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型號: TESCAN SOLARIS
- 產地:捷克
?TESCAN SOLARIS 的 Triglav? 型 SEM 鏡筒具有超高的分辨率,特別是在低電壓下;鏡筒內探測器系統具有電子信號過濾能力,為獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度翻開了全新的篇章。TESCAN SOLARIS 的 Orage? 型 FIB 鏡筒保證了出色的低電壓離子束分辨率和微加工性能,可以滿足制備小于 20 nm 的、最佳質量的半導體器件超薄 TEM 樣品的需要。此外,高達 100 nA 的大離子束流可以對生物樣品和材料進行指定位置的、大體積 FIB-SEM 逐層掃描,圖像也具有出色的襯度。
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飛行時間二次離子質譜儀
- 品牌:英國Kore
- 型號: TOF-SIMS
- 產地:英國
※ 廣泛應用于導體、半導體和絕緣體等領域。 ※ 用于納米級表面成分定性或定量分析,實現二次離子圖像 與二次電子圖像分析。配置離子刻蝕槍,可進行材料深度 分布分析。 ※ 并行探測所有離子,包括有機和無機分析碎片。 ※ 寬范圍的質量探測范圍(實際測量中>1000m/z原子 量)。 ※ 極高的空間分辨率。 ※ 超高靈敏度1E+9 atoms/cm 。 ※ 導體、半導體和絕緣體表面均可測試。
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CAMECA 二次離子質譜儀
- 品牌:法國Cameca
- 型號: IMS 7f
- 產地:法國
CAMECA 二次離子質譜儀(IMS 7f)的主要優勢在于其極高的靈敏度、高空間分辨率(亞微米級橫向分辨率,納米級深度分辨率)以及同位素分辨本領。因其 ppb 水平檢測極限以及高分析速度和可靠性,IMS 7F 成為遍布全球的眾多獨立分析實驗室的主力軍。 CAMECA的SIMS技術**世界。無與倫比的性能得益于其獨有的基于磁扇區原理的儀器設計。 靈敏度:CAMECA IMS 7f 工作是的有效離子產率(useful yields- second
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CAMECA 大型二次離子質譜儀
- 品牌:法國Cameca
- 型號: IMS 1280-HR
- 產地:法國
IMS 1280-HR是大型磁質譜二次離子質譜儀,具有超高靈敏度,針對地質科學與環境領域廣泛的分析需求而專門設計的。在地質學定年、穩定同位素分析、痕量元素以及小粒子分析等方面的分析展現了無與倫比的性能。 K/Ca dating: MR>30,000 (monocollection) Rb/Sr dating: MR>20,000-40,000 (monocollection) Mg & metal isotope ratios: MR>5000 (m
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MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀
- 品牌:英國SAI
- 型號: MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀
- 產地:英國
MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀在探測未知樣品、研究較小區域的表面特征、從有機樣品中獲取更多信息方面。性能卓越探測未知樣品飛行時間質譜(ToF)的引入使得MiniSIMS的性能躍升到一個新的水平。MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀對未知樣品的測定與測量已知組分一樣容易,這使得該儀器非常適合研究性應用。在失效分析中,比如污染鑒定,發現的額外細節有助于準確的查明問題的確切原因。創新的設計使得該儀器使用簡便、結構緊湊。不僅處理功能強大,儀器操作也進一步簡化,在實際分析中,基本不需要操作
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SAI MiniSIMS alpha二次離子質譜儀
- 品牌:英國SAI
- 型號: MiniSIMS alpha
- 產地:英國
MiniSIMS alpha二次離子質譜儀是MiniSIMS系列的入門級儀器。這種高樣品量的儀器是開發樣品特定性質的理想選擇。不論是按照已知標準進行質量控制,還是研究/工藝優化中多種樣品的比較分析,該儀器都非常高效。這種情況下,預設分析條件意味著不同的操作者可以獲得相同數據。通常情況下,每個樣品的分析時間最短5分鐘。MiniSIMS alpha二次離子質譜儀可以配置輔助電子探針來分析絕緣性樣品。MiniSIMS alpha二次離子質譜儀與MiniSIMS所有性能一樣,輔助電子探針可以自動操作,使用方便。寬
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二次離子飛行時間質譜
- 品牌:英國Kore
- 型號: SurfaceSeer
- 產地:英國
SurfaceSeer :具有高通量分析功能的飛行時間二次離子質譜儀,用于研究樣品特定性能的理想工具SurfaceSeer 是Kore公司集多年研發經驗生產出獨特的儀器,第一次將材料表面分析技術引入到可負擔得起的日常常規分析范圍中??稍谧疃痰姆治鰰r間內生成化學圖像,突破常規實驗室儀器的極限!SurfaceSeer分析儀采用功能強大的二次離子質譜SIMS技術,結構緊湊,僅需一個標準電源,可放置于任何場所使用。SurfaceSeer應用廣泛,是一臺高性價比的實驗室型材料表面分析儀器。SurfaceSeer相對
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AB Sciex API 4000+ ? LC/MS/MS 系統
- 品牌:美國SCIEX
- 型號: API 4000+
- 產地:美國
創建質譜定量的黃金標準API 4000+? 三重四級桿串聯質譜系統 行業黃金標準的API 4000+? LC/MS/MS系統能為藥物開發科學家提供全面支持,包括藥物研發到臨床試驗提供高質量的定量分析和定性分析數據。此系統從業界廣為認可和考驗的API 4000?發展而來,提供更加優異的靈敏度和重現性,并提高整體性能的耐用性,可確保在食品、環境樣品中的藥物殘留痕量分析、刑偵毒物樣品分析以及臨床研究分析中數據的可靠性。結合功能強大的Analyst?軟件,此系統可提供藥物開發中對DM
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Waters Xevo TQD 三重四極桿質譜
- 品牌:美國沃特世
- 型號: Xevo TQD
- 產地:美國
耐用、穩定而可靠的Xevo TQD沃特世整套UPLC/MS/MS常規定量應用解決方案可確保系統達到最高的靈敏度、選擇性和穩定性而且操作簡便。借助無與倫比的穩定性使儀器系統的正常運行時間達到最大化加快靈敏穩定的方法的開發速率降低復雜度,提高易用性并確保分析結果始終正確最大限度增加處理量,同時又不會降低數據質量既擁有當今最寬泛的電離能力,又著眼于未來的創新檢驗借助無與倫比的穩定性使儀器系統的正常運行時間達到最大化快速不間斷的分析需要一臺能始終給出準確結果的既可靠又穩定的儀器系統。加快靈敏穩定的方法的開發速
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德國IONTOF TOF-SIMS系統
- 品牌:德國IONTOF
- 型號: M6
- 產地:德國
1 新型 Nanoprobe 50 具有高橫向分辨率 (< 50 nm) 2 質量分辨率 > 30,000 3 獨特的延遲提取模式可同時實現高傳輸,高橫向質量 4 廣域的動態范圍和檢測限 5 用于闡明分子結構具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS 6 先進智能的 SurfaceLab 7 軟件,包括完全集成的多元統計分析 (MVSA) 軟件包 7 新型靈活按鈕式閉環樣品加熱和冷卻系統,可長期無人值守運行
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TRIPLE QUAD? 3500質譜系統
- 品牌:美國SCIEX
- 型號: TRIPLE QUAD? 3500
- 產地:美國
經典傳承的AB SCIEX Triple Quad? 3500質譜系統 從今天起…助力您實驗室的成功您所需要的卓越性能先進設計—GX性能、GX率 每針進樣采集更多的化合物—可靠的定量從不丟失色譜峰– 高靈敏度和高質量數據采集方法出色的運行時間–檢測更多的樣品,提高實驗室生產效率,并且維護次數更少快速獲得結果- 快速,高通量,簡化的數據處理工具服務與支持資源助力您的成功 Triple Quad? 3500質譜系統具有zuiyou化的性能,并采用先進的設計和電子器件,增強
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布魯克 Toxtyper? 質譜儀
- 品牌:德國布魯克
- 型號: Toxtyper?
- 產地:德國
ESI-ITMSToxtyper?Toxtyper? 是一款功能強大的一鍵式解決方案,可快速進行毒理學篩查,用戶界面簡單直觀。簡化藥物篩查強大的 UHPLC-MSn 分析毒理學篩查市面上速度最快的自動化藥物篩查快速基于市場上最快速的 LC-MSn 技術提供自動化藥物檢測解決方案。簡單專為非 MS 專家設計的用戶界面, 一鍵式樣品提交和分析,僅需簡單的用戶培訓。高置信度化合物鑒定基于 MS、MS2 和 MS3 譜圖,加上保留時間的信息,可提供高置信度的結果。高重現性數據依賴型的 MSn 數據采集方式保證
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